符合標(biāo)準(zhǔn)：
美國無紡布靜電衰減測試標(biāo)準(zhǔn)IST40.2(01)，美國聯(lián)邦標(biāo)準(zhǔn)FED-STD-101C(Method4046)，美標(biāo)MIL-B-81705C，美軍標(biāo)MIL-PRF-81705D，中國GB19082，中標(biāo)GJB2625
適用范圍：
靜電衰減測試儀/無紡布靜電特性試驗儀可用于實驗室以分析材料自身的靜電特性、評估抗靜電添加劑的功效、發(fā)展新型靜電防護材料。同時該設(shè)備也可用于在生產(chǎn)制造領(lǐng)域作為產(chǎn)品質(zhì)量控制設(shè)備，依據(jù)各種標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范來進行靜電特性檢測和監(jiān)測。

產(chǎn)品詳細：
406D靜電衰減測試儀采用直流充電法，是符合美標(biāo)方法4046的一套完整的材料靜電特性測試系統(tǒng)。該設(shè)備是符合美軍標(biāo)MIL-PRF-81705D規(guī)范用于檢測材料是否合格的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備。406D符合美國無紡布靜電衰減測試標(biāo)準(zhǔn)IST40.2(01)、美國聯(lián)邦標(biāo)準(zhǔn)FED-STD-101C(Method4046)、美標(biāo)MIL-B-81705C、中國GB19082，中標(biāo)GJB2625。
406D配置的磁吸棒用于薄膜和布匹材料的測試;金屬夾具可以測試較厚的塊狀物、發(fā)泡物或其他形狀和質(zhì)地的材料。選配IC管型夾具可以無損測試IC芯片包裝管;選配806B無損測試電極可以直接放置在試樣上，還可以測試粉體和液體靜電衰減時間。
配套法拉第測試籠提供一個屏蔽空間，試樣放置在法拉第籠內(nèi)進行測試，法拉第籠通過配套連接線連接406D主機。法拉第籠具有互鎖裝置，打開法拉第籠時，高壓電源輸出被切斷。
STM-2驗證模塊提供一個標(biāo)準(zhǔn)的電阻，電容直接采取系統(tǒng)電容。通過測試STM-2標(biāo)準(zhǔn)模塊可以驗證是否正常。
位于法拉第籠內(nèi)的靜電壓探測頭可以卸下，放置在806B無損電極上后，可以直接測試粉體、液體和固體試樣。
產(chǎn)品特性：
充電電壓：0～5.5kV;
誤差期設(shè)置：50%、10%、1%(0);
電壓表量程：0-5kV;
計時器量程：1-99.99s;
計時分辨率：0.01s。

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靜電衰減測試儀/無紡布靜電特性試驗儀

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